高P型载流子浓度的氮化镓基化合物薄膜的生长方法
韩培德; 陈振
2002-09-04
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11
专利类型发明
申请日期2001-01-20
语种中文
申请号CN01100889.X
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/3073
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
韩培德,陈振. 高P型载流子浓度的氮化镓基化合物薄膜的生长方法[P]. 2002-09-04.
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