SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
一种偏振分辨的差分反射谱测量系统; 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统
申超; 朱汇; 吴昊
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-08-29 ; 2011-06-15 ; 2012-08-29
授权国家中国
专利类型发明
摘要 本发明公开了一种偏振分辨的差分反射谱测量系统,包括:一液氮杜瓦;一手动三维平移台;一消色差透镜;一激震器用于周期性震动透镜;一宽波段四分之一波长波片;一双输出格兰泰勒棱镜;一宽波段线偏振片以及一宽波长二分之一波长波片;一单色仪;一超连续白光光源;一探测器;两台锁相放大器;以及一斩波。利用本发明,通过配备低温杜瓦,可以测量样品在77K至300K之间的偏振分辨差分反射谱,从而可以进一步研究分析物质与自旋相关的能带结构和特性。
部门归属半导体超晶格国家重点实验室
申请日期2010-12-20
专利号CN102095689A
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201010596245.7
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23338
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
申超,朱汇,吴昊. 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统, 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统. CN102095689A.
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一种偏振分辨的差分反射谱测量系统.pdf(501KB) 限制开放使用许可请求全文
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