SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
纳米VO_2薄膜相变特性的红外透射表征研究
梁继然; 胡明; 阚强; 王晓东; 李贵柯; 李昌青; 陈弘达
2010
Source Publication光电子·激光
Volume21Issue:3Pages:323-327
Abstract采用双离子束溅射VOx薄膜附加热处理的方式制备纳米VO_2薄膜,利用X射线衍射仪和扫描电子显微镜分别对其结晶结构和表面形貌进行了测试,利用傅立叶变换红外光谱仪(FTIR)对热驱动下纳米VO_2薄膜相变过程中的光学性能进行测试与分析. 实验结果表明,经400℃N_2热处理后,获得了由纳米颗粒组成的VO_2薄膜;在所测试的红外波段,纳米VO_2薄膜内颗粒发生相变的初始温度随波长的增加而升高,薄膜的相变温度点随波长增加也逐渐升高.
metadata_83集成光电子学国家重点实验室
Subject Area光电子学
Funding Organization国家"863"计划资助项目,国家自然科学基金资助项目,天津市应用基础及前沿技术研究重点资助项目
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:3920732
Date Available2011-08-16
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Cited Times:6[CSCD]   [CSCD Record]
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21586
Collection集成光电子学国家重点实验室
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GB/T 7714
梁继然,胡明,阚强,等. 纳米VO_2薄膜相变特性的红外透射表征研究[J]. 光电子·激光,2010,21(3):323-327.
APA 梁继然.,胡明.,阚强.,王晓东.,李贵柯.,...&陈弘达.(2010).纳米VO_2薄膜相变特性的红外透射表征研究.光电子·激光,21(3),323-327.
MLA 梁继然,et al."纳米VO_2薄膜相变特性的红外透射表征研究".光电子·激光 21.3(2010):323-327.
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