SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
LD多灰度数字驱动的非线性测量与校正系统
杨晨; 崔国新; 黄寓洋; 张耀辉; 杨辉
2010
Source Publication光电子·激光
Volume21Issue:2Pages:249-251
Abstract在多灰度数字驱动中,P-N结伏安特性是造成LD数字输入编码与输出光功率间产生非线性关系的原因,为了避免非线性对实际应用的影响,设计了测量这两者关系的可编程系统.以此测量数据为基础,根据查表算法,系统还能对非线性进行校正.实验中,利用此系统对半导体垂直腔面发射激光器(VCSEL)的特性进行了测量,结果显示,系统能有效地对LD的输入编码与输出光功率之间的非线性关系进行校正,能实现对LD的256级线性驱动.
metadata_83集成光电子学国家重点实验室
Subject Area光电子学
Funding Organization苏州市中-美国际合作基金资助项目,科技部中-美国际科技合作计划基金资助项目
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:3838746
Date Available2011-08-16
Citation statistics
Cited Times:1[CSCD]   [CSCD Record]
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21512
Collection集成光电子学国家重点实验室
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GB/T 7714
杨晨,崔国新,黄寓洋,等. LD多灰度数字驱动的非线性测量与校正系统[J]. 光电子·激光,2010,21(2):249-251.
APA 杨晨,崔国新,黄寓洋,张耀辉,&杨辉.(2010).LD多灰度数字驱动的非线性测量与校正系统.光电子·激光,21(2),249-251.
MLA 杨晨,et al."LD多灰度数字驱动的非线性测量与校正系统".光电子·激光 21.2(2010):249-251.
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LD多灰度数字驱动的非线性测量与校正系统(389KB) 限制开放--Application Full Text
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