SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
高温退火处理提高半绝缘VGF-GaAs单晶的电学性能
占荣; 赵有文; 于会永; 高永亮; 惠峰
2008
Source Publication半导体学报
Volume29Issue:9Pages:1770-1774
Abstract垂直梯度凝固法(VGF)生长的低位错半绝缘(SI)GaAs单晶存在电阻率和迁移率低、电学补偿度小、均匀性差等问题.在3种不同温度条件下,对VGF-SI-GaAs晶片进行了加As压的闭管退火处理.结果表明,经过1160℃/12h的高温退火处理后,VGF-SI-GaAs单晶的电阻率、迁移率和均匀性均得到了显著提高.利用Hall、热激电流谱(TSC)、红外吸收法分别测试分析了原生和退火VGF-SI-GaAs单晶样品的电学性质、深能级缺陷、EL2浓度和C浓度,并与常规液封直拉法(LEC)SI-GaAs单晶样品进行了比较.原生VGF-SI-GaAs单晶中的EL2浓度明显低于LEC-SI-GaAs单晶,经过退火处理后其EL2浓度显著增加,电学补偿增强,而且能级较浅的一些缺陷的浓度降低,因而有效提高了其电学性能.
metadata_83中国科学院半导体研究所
Subject Area半导体材料
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:3399095
Date Available2010-11-23
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/15951
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
占荣,赵有文,于会永,等. 高温退火处理提高半绝缘VGF-GaAs单晶的电学性能[J]. 半导体学报,2008,29(9):1770-1774.
APA 占荣,赵有文,于会永,高永亮,&惠峰.(2008).高温退火处理提高半绝缘VGF-GaAs单晶的电学性能.半导体学报,29(9),1770-1774.
MLA 占荣,et al."高温退火处理提高半绝缘VGF-GaAs单晶的电学性能".半导体学报 29.9(2008):1770-1774.
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