Analysis of equilateral triangle semiconductor microlasers with rough sidewalls

SEMI OpenIR > 中国科学院半导体研究所（2009年前）

	Analysis of equilateral triangle semiconductor microlasers with rough sidewalls
	Huang YZ; Gun WH; Yu LJ; Lei HB; Huang YZ Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
	2001
会议名称	4th Pacific Rim Conference on Lasers and Electro-Optics
会议录名称	CLEO(R)/PACIFIC RIM 2001, VOL II, TECHNICAL DIGEST
页码	612-613
会议日期	JUL 15-19, 2001
会议地点	CHIBA, JAPAN
出版地	345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA
出版者	IEEE
ISBN	0-7803-6738-3
部门归属	chinese acad sci, inst semicond, state key lab integrated optoelect, beijing 100083, peoples r china
摘要	The mode frequencies and quality factors are calculated for the equilateral triangle semiconductor microlasers with sinusoidal and random Gaussian sidewalls. The results show that the modes can still have high Q-factors.
关键词	Lasers
学科领域	光电子学
主办者	Japan Soc Appl Phys.; IEICE Elect Soc.; IEICE Commun Soc.; IEEE Lasers & Electro Opt Soc.; Opt Soc Amer.; Optoelect Ind & Technol Dev Assoc.
收录类别	CPCI-S
语种	英语
文献类型	会议论文
条目标识符	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13637
专题	中国科学院半导体研究所（2009年前）
通讯作者	Huang YZ Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
推荐引用方式 GB/T 7714	Huang YZ,Gun WH,Yu LJ,et al. Analysis of equilateral triangle semiconductor microlasers with rough sidewalls[C]. 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA:IEEE,2001:612-613.

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