一种生长纳米折叠结构有源区外延片的方法
朱建军
2010-08-12
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2009-12-02 ; 2010-08-12
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种制备具有纳米折叠有源区结构外延片的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:先制备AlxInyGazN材料模版,其中x+y+z=1,0≤x,y,z≤1;步骤2:利用纳米加工技术,在AlInGaN材料模版上制作AlInGaN纳米柱阵列,该AlInGaN纳米柱阵列包括多个AlInGaN纳米柱;步骤3:在AlInGaN纳米柱阵列、AlInGaN纳米柱和AlInGaN材料模版的上表面生长具有纳米折叠结构的有源区层;步骤4:在具有纳米折叠结构的有源区层上生长带有纳米孔阵列的p型GaN层,该p型GaN层填满AlInGaN纳米柱阵列的缝隙,完成外延片的制作。
申请日期2008-05-28
语种中文
专利状态实质审查的生效
申请号CN200810113324.0
专利代理人汤保平:中科专利商标代理有限责任公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13464
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
朱建军. 一种生长纳米折叠结构有源区外延片的方法[P]. 2010-08-12.
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